近日，由香港科技大学（广州）微电子学域鲁中海教授任第一作者的研究论文《Health Condition Estimation for Discrete Power Electronic Devices under Package Failure》，荣获 IEEE 可靠性学会 2024 年度最佳会议论文奖。
该奖项于 2026 年 6 月在挪威特隆赫姆举办的 IEEE/ASQ RAMS-EUROPE 国际会议上颁发，由 IEEE 可靠性学会主席 Steven Li 教授现场授奖。
本次获奖体现了港科广微电子学域在功率电子器件可靠性研究方面的扎实积累。未来，港科广微电子学域将继续依托香港科技大学（广州）的高质量科研设施平台与交叉学科优势，聚焦产业核心技术难题，持续产出更多兼具学术价值与产业意义的原创成果，为我国高端功率半导体领域的技术突破和微电子学科发展注入更多创新动力。
原始报道：小红书